从10G到40G/100GMPO光纤链路测试技术的变化-创新互联

罗森伯格亚太电子有限公司:李平

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前言

科技改变生活,信息化是当今世界发展的大趋势。物联网,云计算,大数据等新兴的网络信息技术持续创新和应用,而在移动互联技术上,3G网络日趋成熟,4GLTE网络从去年开始已经在全国试点运行,移动互联速度又将迈上了一个新台阶。在这个信息产业化的时代,我们工作生活的城市也在向智慧城市转型,各种网络应用与我们密切相关。无论是新兴技术的应用还是智慧城市的建设,应用都离不开基础网络。基础网络的建设以场地,有源的终端和互联设备,以及构建网络的基础互连通道--布线系统为主。布线系统需要在现场进行施工安装,易受环境,产品质量,安装工艺等因素影响,是决定网络传输质量的最重要环节。布线系统的可靠性不仅取决于工程中的质量监督,更要严把最后一关,现场验收测试。

测试技术发展的迫切性

目前,大部分中小型布线项目还是采用以万兆为主干,实现千兆到桌面的网络架构。但是,随着3G/4G和互联网业务的快速发展,带宽已经不能够满足应用的需求,主干链路采用40G/100G成为大型布线项目,特别是企业数据中心和互联网IDC数据中心项目建设的必然趋势。根据IDC市场报告,预计2015年以后,40G/100G将逐步成为主流的端口速率。

自从2010年6月IEEE发布了802.3ba的40G/100G标准以来,40G/100G的网络主要以实验网为主,对现场测试要求较低。经过2年多的系统研发测试,目前40G/100G的传输技术日趋成熟,各大厂商纷纷推出40G/100G的交换路由设备,电信级长距离主干链路采用单模光纤系统,而楼宇和数据中心的综合布线系统主要以短距离的传输的多模OM3/OM4光纤系统为主,采用12芯MPO的连接器,四通道/十通道的预连接光缆。预连接光缆大大减少安装时间和人工成本,但是如何快速地识别光纤极性,快速并准确的测试链路的衰减成了现场测试的首要问题。

传统光纤测试技术

首先,我们先来回顾一下原有千兆,万兆光纤链路的测试技术。2003年,TIA-526-14-A多模光缆安装光强度损失测试标准正式定义了CPR(CoupledPowerRatio)光耦合率的检测方法,将光源分成5个等级(如下图),LED光源是等级1的光源,VCSEL垂直腔面发射激光光源的等级介于等级3和等级4之间,FP激光光源相当于等级5的光源。同时,进一步提高了光损耗的测试极限值,1000BASE-SX应用于OM1光纤的大损耗值为2.6dB;10GBASE-SR应用于OM3光纤的大损耗值为2.6dB。该标准作为光纤链路测试的通用标准,不针对特定的网络应用,强调检测光信号传输时的正常状态,建议使用LED光源测试多模光纤链路,这种方式可以检测光纤链路的最差情况。而激光优化过的VCSEL光源则用于检测特定网络应用的链路,如有源设备使用VCSEL光源或当前网络准备升级使用VCSEL光源,此时测试得到的光纤损耗值比较接近网络应用时的真实损耗值。

从10G到40G/100G MPO光纤链路测试技术的变化

TIA-526-14-A标准被多个相关测试标准引用,如ANSI/TIA/EIA-568-B,ISO/IEC11801,ISO/IEC14763-3等标准。并且ANSI/TIA/EIA568-B.1.7.1和ISO/IEC14763-36.22还规定了使用50/62.5um多模光纤卷轴的尺寸和使用方法。卷轴通过盘绕光纤的方式充作模式过滤器,减少光源在光缆中产生的高次模,同时降低了使用不同光源造成的测试结果差异性,提高了多模光纤测试的稳定性和可重复性。

10GMPO多芯光纤测试模型

相比较传统使用LC,SC,ST等连接器的双芯光纤,使用MPO连接器可以支持至少12芯光纤,MPO连接器主要使用于预连接光缆。因为MPO光纤存在12芯通道,TIA-568-C.0-2009B.4详细分析了通道极性,针对双工传输,主要有A,B,C三种种极性的连接方式。三种方式都是为了一个共同的目标----创建一个端到端的光收发通道,但是三种方式不能兼容,分别使用不同极性的的连接器和适配器。为了整条链路的兼容性和一致性,尽量考虑使用相同极性的连接器和适配器,比如使用的跳线极性都是A-B,适配器的类型都是KEYUP-KEYUP,否则极性不同会造成使用混乱,容易安装出错,造成链路故障。因此,10G光纤通道里,MPO主干链路的极性主要采用的C类方式(见下图),两端端口按对应数字编号内部互通,光通道采用两两一组,交叉连接,如1---2,2---1,形成全双工的收发通道。左右两端通过MPO转LC的模块盒转成LC接口,然后通过LC跳线连接设备,此种情况主要应用在数据中心高密度布线系统。

从10G到40G/100G MPO光纤链路测试技术的变化

被测链路:

从10G到40G/100G MPO光纤链路测试技术的变化

两端为MPO-LCA模块(MPO1-12口一一对应LC1-12口)的主干链路示意图

1)设置基准:用1根LC-LC测试跳线连接测试仪的光源输出口(LC)和功率计输入口(LC)。

从10G到40G/100G MPO光纤链路测试技术的变化

2)拔出光功率计输入口跳线,接入另一根测试跳线。

3)接入被测光纤(两端为MTP-LC模块盒,中间是MTP-MTP预连接光缆),将LC测试跳线分别接入两端A模块,一端为1口,另一端接2口。

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4)记录保存当前被测光纤通道的损耗值,然后将光源端LC跳线更换到A模块的2口,光功率计端LC跳线更换到另一侧A模块的1口,记录并保存,直到完成12个通道的损耗测试。

从10G到40G/100G MPO光纤链路测试技术的变化

40G/100GMPO多芯光纤测试技术

2010年,802.3ba颁布的40G/100G的链路标准分别为40GBASE-SR4和100GBASE-SR10;使用MPO的连接器和适配器;OM3光纤的大传输距离为100米,大损耗值为1.9dB;OM4光纤的大传输距离为150米,大损耗值为1.5dB。40G/100G链路主要用于数据中心大流量数据传输,据第三方统计数据,数据中心88%的主干链路长度不超过100米。因此,基于OM3/OM4的MPO预连接光缆将成为40G/100G链路的选。之前针对10G光纤链路测试定义的阀值,如LC连接器的阀值为0.75dB,允许存在多个连接器(大于两个),熔接点的阀值为0.3dB已经不再适用。新的40G/100G光纤主干链路将使用预连接光缆,链路中无熔接点和连接器,只需考虑两端MPO连接器的损耗和光缆本身的损耗,尽可能的减少连接器的损耗,确保整条链路的衰减值在新标准的要求之内。

影响40G/100G传输的两个关键因素就是光源和光纤链路损耗。更加严格的损耗要求对传统的LED光源测试方法提出了挑战,原有LED光源的输出功率低,发散角大,连接器损耗大,采用过满注入(OFL—OverFilledLaunch)的方式。而使用VCSEL光源的有限注入法(UFL—UnderFilledLaunch),近场强度的光通道集中在中心范围内,在光纤中心的传输模式较少,发散角较小,有效地解决了LED光源的弊端。但是原有IEEE802.3,ANSI/TIA和ISO/IEC等相关标准只是针对LED光源进行了定义,同时考虑到价格因素,并且不同厂家VCSEL的光功率分布差异较大,因此针对40G/100G的测试的新标准没有采用VCSEL光源进行定义。同样,2006年颁发的ISO/IEC14763-3定义了MPD(ModalPowerDistribution)模态功率分布的方法,虽然通过波导阵列改善了耦合强度,但是同样不能满足40G/100G传输的需要。

2010年10月,ANSI/TIA-526-14-B代替了ANSI/TIA-526-14-A,定义了EF(EncircledFlux)光源环形通量的测试方法,该方法同时定义在IEC61280-4-1标准中。EF通过模式调节器限制多模光源的发射条件,过滤高次模的光信号,使用代用EF控制器的跳线代替原有使用多模卷轴的普通测试跳线(如下图)。当被测光纤连接器和测试设备连接器相同时,可以使用1或3条测试跳线;当被测光纤连接器和测试设备连接器不同时,使用3条测试跳线;测试跳线至少2米,不超过10米。环型通量可将损耗测量偏差从原有±40%降低至±10%,从而降低测量不确定性并提高每次测量的可重复性。

从10G到40G/100G MPO光纤链路测试技术的变化

40G/100GMPO光纤测试模型

一条标准的MPO/MTP链路是由两端两根MPO跳线,两个MPO适配器和MPO的预连接主干光缆组成。在TIA-568-C.0-2009B.4里,针对并行多通道传输,给出了A和B两种方式(见下图,Table5)。

从10G到40G/100G MPO光纤链路测试技术的变化

从10G到40G/100G MPO光纤链路测试技术的变化

为了保障链路的兼容性和单一性,施工和维护比较方便,特别是经常插拔和更换的MPO跳线,在40G/100G布线系统中,方式B将会更多的被采纳。40G和100G的通道数量不同,但是其传输链路模型是相同的,都是使用MPO/MTP接口进行端到端的传输。因此,我们以40G单通道传输为例,测试时需注意预连接光缆和跳线的端口端口类型----有引导针(公头)和无引导针(母头)。

被测MPO链路(母-母):

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传统MPO多芯光纤测试模型----采用LC接口的光源和光功率计

1)设置基准:使用3段光纤跳线和2个LC适配器进行基准设置,光源输出口端使用多模卷轴,如下图所示。

从10G到40G/100G MPO光纤链路测试技术的变化

2)将中间两个LC适配器间的LC短跳线去掉,分别添加2根LC-MPO(公)的多芯短跳线,连接第1对LC,用于测试MPO第1,2口,如下图所示。

从10G到40G/100G MPO光纤链路测试技术的变化

3)将被测MPO光纤链路接入,进行测试,得出MPO第1,2口衰减值并保存。

从10G到40G/100G MPO光纤链路测试技术的变化

4)断开两端LC适配器和多芯LC-MPO(公)跳线,按照B类极性进行余下5对链路的衰减测试。

由此可以看出,使用LC接口的光源和光功率进行40G/100G的链路测试,需要MPO转到LC的扇形跳线,光源输出口端接的跳线必须带有多模卷轴,并且每测试一个通道都需要进行基准设置。因此,此方法操作比较复杂,每根MPO链路需测试12次,在大规模测试时,耗费较多时间。

最新MPO多芯光纤测试模型----采用MPO接口的光源和光功率计

目前市场上已经有MPO接口的光纤现场测试设备,带有EF控制光源,可以较好的满足MPO光纤链路的现场测试。采用MPO接口适配器和MPO的基准跳线,设置相应的链路衰减门阀值,可以一次性进行12条链路的基准设置和衰减测试,自动检测MPO光纤的极性并出具报告。需要注意被测MPO链路连接器有无引导针(公/母),即两端都无引导针(母-母),两端都有引导针(公-公),一端有引导针另一端无引导针(公-母)三种情况,选择合适的基准跳线进行基准设置。下面以最常见的两端都无引导针,即两端都是母头的MPO光纤链路模型进行测试。

被测MPO链路(母-母):

从10G到40G/100G MPO光纤链路测试技术的变化

1)设置基准:使用1根MPO(公-公)测试跳线连接光源和光功率计,进行基准测试。

从10G到40G/100G MPO光纤链路测试技术的变化

2)断开光功率计端跳线,再接入一根MPO(公-公)测试跳线。

从10G到40G/100G MPO光纤链路测试技术的变化

3)将被测B类光纤链路接入,进行测试得到光纤极性和12根通道的损耗,保存测试结果。

从10G到40G/100G MPO光纤链路测试技术的变化

4)重复步骤2)至3),进行下一根MPO(母-母)光纤链路的测试。

结束语

原有10GMPO测试的模型不再适合今后40G/100G的测试需要,LC接口的光源和光功率计导致MPO光纤链路测试次数和时间大大增加,一根12芯的MPO主干链路完整测试需要将近十分钟,并且测试稳定性较差。因此,需要使用带有MPO接口的测试仪器进行测试。同时,EF环形通量控制代替了多模卷轴,增加了光纤链路测试的稳定性和可靠性。100G传输采用十通道收和十通道发的模式较为复杂,IEEEP802.3bm40G/100G工作小组将会对100G的传输模式进行改进,原有的十通道的收发模式将会被四通道代替。作为40G/100G的下一代,高达400G的以太网传输标准即将在明年启动,预计使用OM4光纤。MPO接口的光纤链路在今后的部署将会越来越广,不再局限于电信运营商和数据中心等高端用户,了解MPO光纤链路的传输模型和测试技术将有助于我们更好的驾驭未来的40G/100G高速通信传输通道。

参考文献:

[1]TheneedforEncircledFlux,realorimaginaryAdrianYoung

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文章题目:从10G到40G/100GMPO光纤链路测试技术的变化-创新互联
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